半導體產品檢測
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半導體環境可靠性檢測
溫度溼度偏置迴圈壽命測試
■ 穩態溼熱偏置壽命試驗
■ 高加速蒸煮試驗
■ 高溫儲存壽命試驗
■ 溫度迴圈試驗
■ 加電溫度迴圈試驗
■ 溫度衝擊試驗
■ 鹽霧試驗
■ 溫度偏置工作壽命試驗
■ 高加速壽命試驗
■ 高加速無偏置壽命試驗
■ 振動和掃頻試驗

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