半導體晶片可靠性檢測
       高溫儲存試驗◕╃·₪、溫度迴圈試驗◕╃·₪、溫溼度試驗等╃↟│▩。
 

可靠性測試
       EOS過度電性應力/湧浪測試一般件◕╃·₪、ESD(HBM)一般件◕╃·₪、ESD(MM)一般件◕╃·₪、ESD(Latch-up)一般件◕╃·₪、Non socket CDM Orion CDM 一般件◕╃·₪、System-level ESD test 一般件◕╃·₪、TLP ESD test 一般件◕╃·₪、UBHAST 非偏壓高加速壽命試驗◕╃·₪、TCT 溫度迴圈試驗◕╃·₪、BLT 偏壓壽命試驗◕╃·₪、HTS 高溫貯存試驗 0~ 300c◕╃·₪、LTS 低溫貯存試驗◕╃·₪、THB 溫溼度貯存偏壓試驗◕╃·₪、PCT 高溫水蒸汽壓力試驗◕╃·₪、HAST 高加速壽命試驗◕╃·₪、Pre-condition-not include SAT◕╃·₪、Solderability 沾錫試驗◕╃·₪、PTC 電源溫度迴圈◕╃·₪、SAT 一般件╃↟│▩。
 
服務專案 描述
晶片失效分析 EMMI 失效點定位
OBIRCH 擊穿路徑成像
FIB 電路修改││:0.55 um以上◕╃·₪、電路修改││:0.11-0.28 m及以上工藝(鋁製程)◕╃·₪、電路修改││:0.11-0.18 um (銅製程)◕╃·₪、電路修改: 55-90 nm◕╃·₪、電路修改││:28-40 nm◕╃·₪、切割││:IC橫截面◕╃·₪、切割││:TEM樣品製備
SEM 電子成像
EDX 元素分析
DECAP 金線◕╃·₪、銅線◕╃·₪、合金
OM 高畫質光學顯微成像╃•◕,可拼圖
AFM(C-AFM) 材料微觀形貌◕╃·₪、大小◕╃·₪、厚度和粗糙度表徵;表面電勢◕╃·₪、導電性◕╃·₪、彈性模量◕╃·₪、壓電係數
XPS 元素種類◕╃·₪、化學價態及相對含量鑑別;元素或化學態表面分佈分析
TEM 材料微區觀察與分析
FIB+TEM 透射樣品制祥+觀察
XRD 金屬和非金屬定性定量分析
Raman 物質結構鑑定◕╃·₪、分子相互作用分析
橢偏儀 各種介質膜厚度及折射率
FT-IR 樣品成分◕╃·₪、結構鑑定
晶片電學測試 靜態特性引數 靜態參教◕╃·₪、特性曲線(Vd-Id, ld-Vg)
動態特性引數 等效電容Ciss, Cosg, Crss;柵極等效電阻Rg;柵極電荷特性Qg;阻性開關特性td(on)╃•◕,td(off),tr, tf;感性開關特性td(on), td (off),tr, tf;二極體反向恢復特性trr, Qrr;短路耐量(時間)
熱阻特性 穩態熱阻◕╃·₪、瞬態熱阻
抗靜電雷擊測試 二極體液湧測試儀(正向)◕╃·₪、二極體液浦測試儀(反向)◕╃·₪、雷擊浪湧發生器◕╃·₪、峰值電壓測試裝置◕╃·₪、雷擊浪湧測試裝置◕╃·₪、TLP

手   機││:18036862869

電   話││:0510-85388506

郵   箱││:hkt@hanketest.com

網   址││:www.acehello.com

地   址││:江蘇省無錫市新吳區景賢路52號

掃碼關注手機站
掃碼關注公眾號
Copy right © 2020 無錫瀚科檢測有限公司 主營││:半導體檢測 汽車零部件檢測 可靠性檢測 產品老化檢測 鹽霧腐蝕檢測 備案號││:蘇ICP備20036233號

服務熱線

18036862869

關注公眾號

日韩小视频,丁香五月亚洲综合深深爱,台湾娱乐中文网,好紧好湿好爽好硬视频