可靠性測試
       EOS過度電性應力/湧浪測試一般件◕╃·₪、ESD（HBM）一般件◕╃·₪、ESD（MM）一般件◕╃·₪、ESD（Latch-up）一般件◕╃·₪、Non socket CDM Orion CDM 一般件◕╃·₪、System-level ESD test 一般件◕╃·₪、TLP ESD test 一般件◕╃·₪、UBHAST 非偏壓高加速壽命試驗◕╃·₪、TCT 溫度迴圈試驗◕╃·₪、BLT 偏壓壽命試驗◕╃·₪、HTS 高溫貯存試驗 0~ 300c◕╃·₪、LTS 低溫貯存試驗◕╃·₪、THB 溫溼度貯存偏壓試驗◕╃·₪、PCT 高溫水蒸汽壓力試驗◕╃·₪、HAST 高加速壽命試驗◕╃·₪、Pre-condition-not include SAT◕╃·₪、Solderability 沾錫試驗◕╃·₪、PTC 電源溫度迴圈◕╃·₪、SAT 一般件╃↟│▩。